HITACHI日立XRF涂鍍層測厚儀
獲得正確的鍍層厚度對于滿足成本收益和質量目標非常重要。如果您的鍍層太厚,那么您的成本就會太高,而且鑒于某些金屬市場的波動性,很容易失去來之不易的利潤。另一方面,如果您的鍍層太薄,那么組件將無法發揮預期的性能或外觀,最終您將面臨代價高昂的返工或客戶投訴。日立用于鍍層應用的臺式 XRF 測厚儀和電磁測厚儀系列(使用磁感應、渦流和微電阻)堅固耐用,為客戶帶來高性能、準確性和可靠性,有助于保持高生產運行和
獲得正確的鍍層厚度對于滿足成本收益和質量目標非常重要。如果您的鍍層太厚,那么您的成本就會太高,而且鑒于某些金屬市場的波動性,很容易失去來之不易的利潤。另一方面,如果您的鍍層太薄,那么組件將無法發揮預期的性能或外觀,最終您將面臨代價高昂的返工或客戶投訴。日立用于鍍層應用的臺式 XRF 測厚儀和電磁測厚儀系列(使用磁感應、渦流和微電阻)堅固耐用,為客戶帶來高性能、準確性和可靠性,有助于保持高生產運行和
HITACHI日立XRF涂鍍層測厚儀的介紹:
獲得正確的鍍層厚度對于滿足成本收益和質量目標非常重要。如果您的鍍層太厚,那么您的成本就會太高,而且鑒于某些金屬市場的波動性,很容易失去來之不易的利潤。另一方面,如果您的鍍層太薄,那么組件將無法發揮預期的性能或外觀,最終您將面臨代價高昂的返工或客戶投訴。
日立用于鍍層應用的臺式 XRF 測厚儀和電磁測厚儀系列(使用磁感應、渦流和微電阻)堅固耐用,為客戶帶來高性能、準確性和可靠性,有助于保持高生產運行和高產品質量。
無論是測量小型電氣連接器上的復雜鍍層、遵循 IPC 指南還是驗證大型組件上的鍍層完整性,您都會發現日立分析儀可以無縫適用于您的生產中。
日立用于測量鍍層厚度和成分的臺式 XRF 分析儀系列旨在應對當今電鍍車間和電子元件制造商的挑戰。每臺儀器都包含強大的技術,可提供準確和精確的結果,堅固耐用,可以應對生產或實驗室環境中的持續使用。
無論您的挑戰是測量各種形狀和尺寸、應對異常大的基材、測量超薄鍍層的微小特征,還是僅僅是您必須在一天內完成的分析量,日立鍍層 XRF 分析儀都能應對這些挑戰,幫助您可以減少浪費、減少返工并確保離開您工廠的組件具有高質量。隨著鍍層變得越來越復雜,部件越來越小,我們的產品系列旨在應對未來的挑戰,為您的投資提供永不過時的保障。
HITACHI日立XRF涂鍍層測厚儀的型號對比:
HITACHI日立XRF涂鍍層測厚儀的應用行業
控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據IPC 4556和IPC 4552A測量非電鍍鎳(EN,NiP)電鍍厚度和成分結構。日立分析儀器產品幫助您在嚴控的范圍內持續運營,確保高質量并避免昂貴的返工。
零件必須在規格范圍內被電鍍,以達到預期的電力、機械及環境性能。 開槽的X-Strata系列產品 ,可以測量小的試片或連續帶狀樣品,從而達到 引線框架(引線框架)、連接器插針、線材和端子的上、中和預鍍層厚度的控制。
半導體器件越來越小巧而復雜,需要分析設備測量其在小區域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設計為可為客戶所需應用提供高準確性分析,及重復性好的數據。
結合采購和本地制造的組件及涉及產品的多個測試點,實現從進廠檢查到生產線流程控制,再到質量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產品幫助您在全生產鏈分析組件、焊料和產品,確保每個階段的質量。
對可再生能源的需求不斷增加,而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準確度和連貫性,從而確保高效率。
與復雜的全球供應鏈合作,驗證和檢驗從供應商處收到的材料非常重要。使用日立分析儀器的XRF技術,根據IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHS和ELV等法規要求,確保高可靠性涂鍍層被應用于航空和關鍵任務領域。
檢驗所用涂層的厚度和化學性質,以確保產品在惡劣環境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。
通過確保磨蝕環境中關鍵部件的涂層厚度和均勻度,預防產品故障。復雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。
當目標是實現無瑕表面時,整個生產過程中的質量控制非常重要。通過日立分析儀器的多種測試設備,您可以可靠地檢測基材,中間層和頂層厚度。
在極端條件下進行的零件的表面處理必須被控制在嚴格公差范圍內。確保符合涂鍍層規格、避免產品召回和潛在的災難性故障。